El sistema de prueba de diodos láser pulsado Keithley 2520 es un sistema integrado y sincronizado para probar diodos láser al principio del proceso de fabricación, cuando no se puede lograr fácilmente un control adecuado de la temperatura. El Keithley 2520 proporciona todas las capacidades de abastecimiento y medición necesarias para las pruebas pulsadas y continuas LIV (energía de corriente de luz) de diodos láser en un instrumento compacto de medio rack. La estrecha sincronización de las capacidades de fuente y medida garantiza una alta precisión de medición, incluso cuando se prueba con anchos de pulso tan cortos como 500ns.
Hay tres canales de fuente y circuitos de medición en el Keithley 2520. Los tres canales están controlados por un único procesador de señal digital (DSP), lo que garantiza una estrecha sincronización de las funciones de abastecimiento y medición. El canal de accionamiento de diodo láser proporciona una fuente de corriente junto con la capacidad de medición de voltaje. Cada uno de los dos canales fotodetector suministra un sesgo de voltaje ajustable y cumplimiento de voltaje, además de la capacidad de medición de corriente. Estos tres canales proporcionan todas las capacidades de fuente y medida necesarias para la caracterización LIV completa de diodos láser antes de la integración en módulos de temperatura controlada. Al eliminar la necesidad de comandos GPIB para realizar barridos de prueba con múltiples instrumentos separados, el abastecimiento y la medición integrados del Keithley 2520 permiten una mejora significativa en el rendimiento.
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