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Analizadores de parámetros de semiconductores
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Unidad de monitor de fuente de alta velocidad usada Agile...La unidad de monitor de fuente Keysight E 5262 A proporciona una solución de prueba paramétrica de alta velocidad para las necesidades de prueba de semiconductores, RFIC y componentes ópticos.
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Sistema de medición paramétrico usado Agilent E5270BEl Agilent E5270B 8-Slot Parametric Measurement Mainframe es completamente configurable por el usuario. Puede instalar hasta ocho módulos de una sola ranura (como el E5281B MPSMU)
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![HPSMU Agilent E 5280 B usado]()
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Como uno de los principales fabricantes de analizadores de parámetros de semiconductores en China durante más de 10 años, le damos una calurosa bienvenida para que compre analizadores de parámetros de semiconductores duraderos en existencia aquí en nuestra fábrica. Todos los equipos de prueba y medición restaurados son de alta calidad y bajo precio.